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KLA-Tencor 推出基于 Linux 的新型产品 LithoWare

2018-08-19 -点击次数:104 -
KLA-Tencor正式推出基于Linux的新型产品LithoWare,该系统可帮助半导体电路设计人员大幅度降低RET*和OPC*工艺开发的时间和...

KLA-Tencor 推出最新 Puma 9150 检测系统

2018-08-19 -点击次数:123 -
KLA-Tencor推出其在带图形晶片暗场检测技术领域的最新产品—Puma9150系统。该系统采用新的光学模式,可在45纳米及以下...

KLA-Tencor 发布最新存储和逻辑器件明场检测系统

2018-08-19 -点击次数:158 -
KLA-Tencor推出28xx明场检测平台的最新成员2810和2815。通过特殊的光学配置,它们能有效地应对亚55纳米存储器件和亚4...

KLA-Tencor 发布高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350

2018-08-19 -点击次数:181 -
KLA-Tencor日前发布业界最先进的高分辨率表面轮廓测量系统HRP-350,使测量能力扩展至45纳米半导体器件。这个新设备配...
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